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ThermoTST HTS200工业恒温控温热流仪热流罩气流仪
工业恒温控温热流仪热流罩气流仪，ThermoTST HTS200高温冲击气流仪用于电子元件或非其他模块及器件的快速温度循环冲击，进行温度特性和器件表征测试 参考价￥11111 -
ThermoTST TS780B冷热循环冲击气流测试机热流罩
冷热循环冲击气流测试机热流罩，ThermoTST TS780B是一台精密的高低温冲击气流仪，具有的温度范围-80℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。 参考价￥11111 -
ThermoTST TS760B冷热循环冲击气流测试机热流罩
冷热循环冲击气流测试机热流罩，ThermoTST TS580B是一台精密的高低温冲击气流仪，具有的温度范围-70℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。 参考价￥11111 -
冷热循环冲击气流测试机热流仪
冷热循环冲击气流测试机热流仪，ThermoTST TS580B是一台精密的高低温冲击气流仪，具有的温度范围-80℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。 参考价￥11111 -
ThermoTST TS345高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机
高低温 集成电路IC芯片温度冲击测试机 ，ThermoTST TS345是一台精密的高低温冲击气流仪，具有的温度范围-55℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-40℃到+125℃之间转换约15秒 ; 紧凑型及低噪音的设计，满足桌面式应用。 参考价￥11111 -
ThermoTST TS325热流仪高低温循环测试系统热流罩
热流仪高低温循环测试系统热流罩 ，ThermoTST TS325是一台精密的高低温冲击气流仪，具有的温度范围-25℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-25℃到+125℃之间转换约15秒 ; 紧凑型及低噪音的设计，满足桌面式应用。 参考价￥11111 -
BiasHAST偏压老化测试系统
BiasHAST偏压老化测试系统，HAST测试系统采用立式结构，便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件，对半导体芯片施加偏置电压，以模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应。该系统广泛应用于IC封装、半导体、微电子芯片、磁性材料及其它电子零件的可靠性测试。 参考价￥11111 -
高低温循环测试系统热流仪
高低温循环测试系统热流仪 ，温度范围-70℃到+225℃，提供的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; 经长期的多工况验证，满足各类生产环境和工程环境的要求。TS560是纯机械制冷，不用液氮或任何其他消耗性制冷剂。 参考价￥11111 -
冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案，本系统针对 PCB 通路电阻测试中阻值低、测试精度高的要求，克服了手工测量过程中可能出现的干扰、不稳定等技术问题，实现了对 PCB 多通道低阻测试的解决方案。本系统不仅可以很好地替代平时的手工操作，而且还可以对放置于环境试验箱内做高低温试验的 PCB 板进行长期在线监测，从而很方便的观察 PCB 板通路在不同环境下的阻值变 参考价￥11111 -
冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案
冷热冲击试验箱 导通电阻测试系统方案，本系统针对 PCB 通路电阻测试中阻值低、测试精度高的要求，克服了手工测量过程中可能出现的干扰、不稳定等技术问题，实现了对 PCB 多通道低阻测试的解决方案。本系统不仅可以很好地替代平时的手工操作，而且还可以对放置于环境试验箱内做高低温试验的 PCB 板进行长期在线监测，从而很方便的观察 PCB 板通路在不同环境下的阻值变 参考价￥11111 -
电子元器件高低温在线测试系统
电子元器件高低温在线测试系统，高低温在线测试系统是为航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线测试专用设备。能使用户在高低温条件下对半导体分立器件、光耦、运放、电压调节器等集成电路电子元器件实时测试，免去了以往要拿出高低温箱再进行测试的不便及误差。 参考价￥11111 -
芯片动态老化测试系统
芯片动态老化测试系统，高低温在线测试系统是为航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线测试专用设备。能使用户在高低温条件下对半导体分立器件、光耦、运放、电压调节器等集成电路电子元器件实时测试，免去了以往要拿出高低温箱再进行测试的不便及误差。 参考价￥11111