微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统

微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统

参考价: 订货量:
￥ 99999 1台

具体成交价以合同协议为准
2024-10-21 14:28:59
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属性：
产地:国产；产品大小:中型；产品新旧:全新；结构类型:立式；温度范围:+105℃~+150℃；
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产品属性
产地
国产
产品大小
中型
产品新旧
全新
结构类型
立式
温度范围
+105℃~+150℃
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成都中冷低温科技有限公司

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产品简介

微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。

详细介绍

（价格仅供参考，请以实际价格为准）

微波器件高加速寿命   偏压老化测试系统

是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。


微波器件高加速寿命   偏压老化测试系统应用

适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。


微波器件高加速寿命   偏压老化测试系统特点

·每颗器件的Vgs独立控制

·实时监测每个试验器件的Id、  Ig

·控制上、下电时序

·全过程试验数据保存于硬盘中，  可输出Excel

·试验报表和绘制全过程漏电流  IR变化曲线


微波器件高加速寿命偏压老化测试系统

微波器件高加速寿命 偏压老化测试系统








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