（价格仅供参考，请以实际价格为准）

微波器件高加速寿命   偏压老化测试系统

是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。

是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。

适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。

微波器件高加速寿命   偏压老化测试系统特点

·每颗器件的Vgs独立控制

·实时监测每个试验器件的Id、  Ig

·控制上、下电时序

·全过程试验数据保存于硬盘中，  可输出Excel

·试验报表和绘制全过程漏电流  IR变化曲线