芯片恒温恒湿测试箱
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LQ-TH-100F芯片恒温恒湿测试箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-17 11:59:36
2988
属性:
产地:国产;产品大小:中型;产品新旧:全新;定时功能:有;结构类型:立式;控温范围:-70~+150℃;内尺寸:500*400*500;温度均匀度:≤±2℃;温度波动度:≤±0.5℃;
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产品属性
产地
国产
产品大小
中型
产品新旧
全新
定时功能
结构类型
立式
控温范围
-70~+150℃
内尺寸
500*400*500
温度均匀度
≤±2℃
温度波动度
≤±0.5℃
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东莞市柳沁检测仪器有限公司

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产品简介

芯片恒温恒湿测试箱常用于中小大型等企业及生产厂家试验室做试验用的,所以也可以高精度恒温恒湿试验箱。精度是测量值与真值的接近程度。高精度恒温恒湿箱是指试验箱的温度分布均匀度非常精准,能满足标准要求的精度。

详细介绍

芯片恒温恒湿测试箱常用于中小大型等企业及生产厂家试验室做试验用的,所以也可以高精度恒温恒湿试验箱。精度是测量值与真值的接近程度。高精度恒温恒湿箱是指试验箱的温度分布均匀度非常精准,能满足标准要求的精度。

工作室内箱尺寸宽*高*深(cm): 40*50*40;50*50*40;50*60*50;50*75*60;60*85*80;100*100*800;100*100*100。

此类设备温度解析精度为0.01℃,湿度解析精度为0.1%R.H,温度控制精度为±0.2℃,湿度控制精度为±2%R.H,温度均匀度为±2℃,湿度均匀度为≤±3%R.H(+2、-3%RH),温度波动度为±0.5℃,湿度波动度:±2%,以上均为行业标准要求的精度指标,柳沁产品保证达到。

芯片恒温恒湿测试箱执行标准:

性能指标符合GB5170、2、3、5、6-2008 《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温、高温、恒定湿热、交变湿热试验设备》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

GJB150.9-1986《设备环境试验方法:湿热试验》。

GJB4.5-1983《船舶电子设备环境试验恒定湿热试验》。

电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

电工电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.3-2008(IEC68-2-3)。

电工电子产品基本环境试验规程 试验Da:交变湿热试验方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。



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