芯片测试高低温冲击仪
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芯片测试高低温冲击仪

LQ-TS-408芯片测试高低温冲击仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-17 11:45:57
2431
属性:
产地:国产;产品新旧:全新;温度范围:-40℃~150℃;内尺寸:600*850*800;
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产品属性
产地
国产
产品新旧
全新
温度范围
-40℃~150℃
内尺寸
600*850*800
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东莞市柳沁检测仪器有限公司

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产品简介

芯片测试高低温冲击仪价格是每个想购买高低温冲击试验箱的顾客都迫不及待想知道的。因为每个厂家投入的成本不一样,所以造就不同品牌不同型号及不同配置的高低温冲击试验箱均价格不一。

详细介绍

芯片测试高低温冲击仪价格是每个想购买高低温冲击试验箱的顾客都迫不及待想知道的。因为每个厂家投入的成本不一样,所以造就不同品牌不同型号及不同配置的高低温冲击试验箱均价格不一。

芯片测试高低温冲击仪型号及技术参数如下:(分别是宽×高×深) (mm)

LQ-TS-50内箱尺寸:350×350×400外箱尺寸:1560×1750×1440

LQ-TS-80内箱尺寸:500×400×400外箱尺寸:1700×1800×1440

LQ-TS-100内箱尺寸:600×400×400外箱尺寸:1800×1800×1440

LQ-TS-150内箱尺寸:600×500×500外箱尺寸:1800×1900×1540

LQ-TS-250内箱尺寸:700×600×600外箱尺寸:1900×2000×1640

LQ-TS-480内箱尺寸:800×800×750外箱尺寸:2020×2250×2150

温度范围:A:-40~ 150℃;B:-55~ 150℃;C:-65~ 150℃

所有高低温冲击试验箱的电源均采用:3∮5W AC380±10% 50/60HZ

高温室:预热温度范围,RT 20℃~200℃升温时间: 20℃~ 200℃约30min

低温室:预冷温度范围,RT~-80℃降温时间: 20℃~-80℃约80min

实验室冲击:温度均匀度±2.0℃

内外部材质:内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理,外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢

保温材质:耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料

控制器:柳沁采用原装 韩国“TEMI”或日本“OYO”牌

通讯功能:RS-232接口

压缩机:法国'泰康'牌或德国'比泽尔'

制冷剂:美国R23和R404环保制冷剂

冷却系统:全密闭式双段压缩机(风冷式)或半密闭式双段压缩机(水冷式)

系统:微电脑平衡调温控制系统

冷凝器:不锈钢钎焊板式换热器

加热器、冷却器:镍铬合金加热器、翅片式冷却器、蓄冷器

气动气缸:高温、环境温度、低温暴露时的各个风门驱动用

高低温冲击试验箱厂家生产的设备配有基本的安全保护装置,如:无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、压缩机过热、过载、过流保护,冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器、漏电保护器, 风机过热保护,相序保护,超温保护,排气阀,压缩空气调节开关,保险丝。

高低温冲击试验箱基本配件:上下可调隔层两片、电缆测线孔、脚轮、水平支架

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