芯片恒温恒温交变试验箱
芯片恒温恒温交变试验箱
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芯片恒温恒温交变试验箱
芯片恒温恒温交变试验箱

LQ-TH芯片恒温恒温交变试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-04-07 12:58:16
825
属性:
产地:国产;产品大小:中型;产品新旧:全新;尺寸:400*500*400;
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产品属性
产地
国产
产品大小
中型
产品新旧
全新
尺寸
400*500*400
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东莞市柳沁检测仪器有限公司

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产品简介

芯片恒温恒温交变试验箱的用途:
电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料,在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时、耐低温、耐潮湿循环的适应性试验;是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备。

详细介绍

芯片恒温恒温交变试验箱的用途:

电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料,在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时、耐低温、耐潮湿循环的适应性试验;是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备。


芯片恒温恒温交变试验箱符合标准:

性能指标符合GB5170、2、3、5、6-95《电工电子产品环境试验设备基本参数检定低温、高温、恒定湿热、交变湿热试验设备》的要求。

电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

电工电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验

规格参数:

型号可选:LQ-TH-80/100/150/225/408/800/1000(ABCD)。

内箱尺寸可选(mm)宽*高*深 W*H*D :400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。

温度范围可选:A:0℃~150℃/B:-20℃~150℃/;C:-40℃~150℃/;D:-70℃~150℃/(可任意调节)。

湿度范围:20%~98%RH(行业标准型)。

升降温速率:

RT<----->150℃ 约35分钟(非线性空载,约3.0℃/分钟)。

RT<----->-20℃ 约45分钟(非线性空载,约1.0℃/分钟)。

解析精度: 0.01℃。       

控制精度:≤±0.5℃。

均匀度:≦2.0℃。

电源功率:AC1¢3W 220V 50/60HZ或AC3¢5W380V 50/60HZ,功率电流视型号规格而定。 

 

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