显微光谱测量系统-MicroTEQ-A1

显微光谱测量系统-MicroTEQ-A1

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2024-09-02 14:38:30
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北京中瑞先创科技有限公司

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产品简介

MicroTEQ-A1显微光谱测量系统,集成荧光、共焦拉曼测量功能*。通过把光谱测量模块集成到正置或倒置显微镜上,实现显微荧光、共焦拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、显微镜、光谱测试模块等部分构成。

详细介绍

MicroTEQ-A1显微光谱测量系统,集成荧光、共焦拉曼测量功能*。通过把光谱测量模块集成到正置或倒置显微镜上,实现显微荧光、共焦拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、显微镜、光谱测试模块等部分构成。

*注:使用光纤代替共聚焦系统内的小孔(Pinhole)。


应用范围


定制显微镜


MicroTEQ-A1 系统可以适配不同品牌和种类的显微镜,客户可根据需求自行挑选。同时,由于应用领域的多样性,客户对系统性能的侧重点各不相同,该系统对此提供定制服务,满足客户的不同需求。

系统参数

型号

MicroTEQ-A1

光谱仪配置

拉曼

拉曼

荧光

光谱仪

QEPRO@532 nm

QEPRO@785 nm

QEPRO-FL

光谱范围

150-4200 cm-1@532 nm

150-2000 cm-1@785 nm

300-1050 nm

分辨率

~10 cm-1@5 um狭缝

~6 cm-1@5 um狭缝

1.5 nm@5 um狭缝

探测器

背照减薄型面阵CCD

激光器

单纵模激光,可选用光纤外接其他激光器

功率

50 mW

波长

532 nm

光束发散

1.3 mrad

显微光谱测量模块

400-1100 nm

模块输出能量

25 mW

手动衰减切换

50%, 10%, 1%, 0.1%

光斑尺寸

10x NA0.25 物镜下 <=10 um
























































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