一、PCT老化试验箱用途：

主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

二、PCT老化试验箱特点：

1、PCT高压加速试验箱一家采用全自动补充水位之功能,试验中断.
2、试验过程的温度、湿度、压力，是真正读取相关传感器的读值来显示的，而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的，真正体现了实际的试验参数。
3、干燥设计，采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥，确保稳定性。
4、精准的压力/温度对照显示，*符合温湿度压力对照表要求。
5、LED数字型定时器，当锅内温度达到设定值后才开始计时以确保试验*。
6、开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到*佳蒸气质量。
三、PCT老化试验箱技术参数：

1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.

2.外箱尺寸: 700×900×650 mm(W×H×D) 

3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.

4.外箱材质： 上等烤漆。

5.温度范围 : 100℃～132℃.  (饱和蒸气温度).

6.湿度范围 : RH .  (饱和蒸气湿度).

7.压力范围（表上压力） : 0.0Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).

8.时间范围: 0 ～ 999 小时可调.

9.温度分布: ≤± 2.0℃.

10.升温时间:常温 ～ 132℃约40分钟内. （控制点温度）.

11.加压时间:0.0Kg/cm2 ～ 2.0Kg/cm2 约45分钟内（控制点压力）.

12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

13.控制方式:微电脑PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.

以下是PCT老化试验箱图片

东莞鹏锐试验设备有限公司专业生产PCT老化试验箱，高压加速老化试验箱，高压老化试验箱，高压加速老化试验机，高压寿命老化试验机等非标饱和高压试验箱。