| 仪器型号 | WJL-632 | WJL-636 | WJL-638 |
| 测量范围（微米） | 0.1-600 | 0.05-800 | 0.02-1200 |
| 测量波长(微米) | 0．6328 |
| 仪器光源 | He-Ne气体激光 |
| 测量方法 | 湿法分散 |
| 准确性误差 | ±1%国家标准物质D50 |
| 重复性误差 | ±1%国家标准物质D50 |
| 操作系统 | WINDWS7/WINDWS8/XP（电脑反控主机） |
| 通信接口 | RS232/USB |
| 电源 | 220V±22V 50Hz±1Hz |
| 外型尺寸 | 1000mm×330mm×320mm |
| 仪器净重 | 33kg |
品牌
其他厂商性质
所在地
上海仪电物光SGW®-533旋光仪
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-1T SOLID（固液两用）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-2T （高温型）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-1T LIQUID（液体专用）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-3T （高精度）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-1T· LO（固液两用 低折射率）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-4T （高折射率）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-2T· LO（高温型 低折射率）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-2T·UH （高温样品 超高折射率）
面议
ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-2T·HI （高温样品 高折射率）
面议
ATAGO（爱拓）（多波长）阿贝折射仪 DR-M2/M4（1,100nm）
面议
ATAGO（爱拓）（多波长）阿贝折射仪 DR-M2/M4 （1,550nm）
面议| 仪器型号 | WJL-632 | WJL-636 | WJL-638 |
| 测量范围（微米） | 0.1-600 | 0.05-800 | 0.02-1200 |
| 测量波长(微米) | 0．6328 |
| 仪器光源 | He-Ne气体激光 |
| 测量方法 | 湿法分散 |
| 准确性误差 | ±1%国家标准物质D50 |
| 重复性误差 | ±1%国家标准物质D50 |
| 操作系统 | WINDWS7/WINDWS8/XP（电脑反控主机） |
| 通信接口 | RS232/USB |
| 电源 | 220V±22V 50Hz±1Hz |
| 外型尺寸 | 1000mm×330mm×320mm |
| 仪器净重 | 33kg |
| 测量范围（微米） | 0.05-800 |
| 测量波长(微米) | 0．6328 |
| 仪器光源 | He-Ne气体激光 |
| 测量方法 | 湿法分散 |
| 操作系统 | WINDWS7/WINDWS8/XP（电脑反控主机） |
| 外形尺寸 | 1000mm×330mm×320mm |
| 仪器净重 | 33kg |