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手持式XRF合金分析仪X-200系列
分析仪采用基本参数法（fundamental parameters）、康普顿标准化法（Compton Normalization）及经验系数法（empirical calibration）校正。
一、用途：
1、能检测并鉴别出金属的种类、含量以及杂质成分。
3、仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合***号，用户也可自己建立合***号库。
合金分析仪主机、防尘抗震手提箱、操作系统和分析软件、校准证书、数据传输线、智能充电系统、充电电池等。
1、主机重量≤1.4KG（含电池），便于携带。
3、校正方法：分析仪采用基本参数法（fundamental parameters）、康普顿标准化法（Compton Normalization）及经验系数法（empirical calibration）校正。符合美国EPA Method 6200使用规范要求。
5、激发源：微型直板电子X射线管，内置40kV/50kV多段可选择的电压。射线管靶材：Au/Rh靶。
7、电源：两节通用型充电锂离子电池，使用时间不少于10小时。
9、光斑大小：内置小点准直器，射线管光束≤3mm，可对焊点进行瞄准测试。
11、CPU运算方式：浮点15、一体化设计：仪器无需插件式PDA, 显示器与仪器一体化的液晶触摸屏，防尘防水。
13、远程维护功能：可通过计算机对仪器实现远程操控，并能进行上传下载、数据和谱图处理、编辑、输出分析报告。
15、辐射安全防护性能：具有明显的射线开启警示灯，并具有自动保护装置,窗口前无被测物时，启动的仪器会在2秒后自动停止测试。
应用模式 | 可分析元素：光束 1 (40 kV) | 光束 2 (10 kV) | 光束 3 (50 kV) |
矿石模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U | Mg, Al, Si, P, S, K, Ca | Ag, Sn, Sb, Ba |
土壤模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi | Mg, Al, Si, P, S | Ag, Cd, Sn, Sb, Ba |
合金模式 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb | Mg, Al, Si, P, S | N/A |
贵金属模式 | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb | N/A | N/A |
