WYPLSpec系列光致发光光谱测试系统
系统型号WYPLSpec I 常温扫描型
WYPLSpec II 低温扫描型
WYPLSpec M Mini 摄谱型
本系统可以测试半导体材料或其他发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。通常情况下采用紫外或进紫外激光激发半导体材料（如GaN、Zno、CdTe 等）产生荧光；或用可见、红外激光器激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生的荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析材料能带结果等特征。
技术指标：● 光谱范围：200-2500nm（可根据实际需要选择）
● 波长准确度：±0.2nm
● 光谱分辨率：±0.1nm
● 光谱带宽：0.2-10nm 可调
● 光源波长：224nm、248nm、266nm、325nm、488nm、532nm、946nm、1964nm 等可选
● 可升级做透射、反射光谱测试
