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模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪

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上海市

HORIBA 科学仪器事业部

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产品型号:Fluorolog-QM     厂商性质:生产厂家
上海市天山西路1068号联强国际广场A栋1层D单元
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产品简介

HORIBA Fluorolog-QM模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪:代表了五十多年HORIBA 的荧光行业先进经验以及制造高水平和功能多样性的荧光光谱仪。相较于其他科研级荧光光谱仪,Fluorolog-QM 以其全波长范围内的反射性能以及众多的光源和检测器选择方案,全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围至5500nm,以及显微镜、X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案等优势,

产品详情

HORIBA 模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪

Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的荧光行业先进经验以及制造高水平和功能多样性的荧光光谱仪。相较于其他科研级荧光光谱仪,Fluorolog-QM 以其全波长范围内的反射性能以及众多的光源和检测器选择方案,全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围至5500nm,以及显微镜、X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案等优势,为荧光测试提供高灵敏度和无限拓展性。

 

“仪器性能、通用性及操作便捷性的飞跃提升” 

l  反射式光路设计,保证全波长范围准确聚焦,无需调整光路,性能全优化,这是高灵敏度的保证

l  具备优势的杂散光抑制比,像差校正长焦长单色仪(单级:350 mm,双级:700 mm)

l  配备专业分析软件,满足所有稳态和寿命测试需求,具有多种新型寿命拟合功能

l  扩展波长范围,光路由气氛保护,保证深紫外到近红外区域的检测

l  可同时连接4种光源和6个检测器,且全部由电脑控制,实现多功能测试

l  即插即用,100 MHz脉冲光源,强化TCSPC寿命功能

l  近红外稳态和磷光寿命检测波长至5500 nm

l  优化的光学设计,氙灯光源扩展深紫外激发(低至180 nm),无臭氧

 

HORIBA Fluorolog-QM模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪

高灵敏度 

Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙灯光源配合椭球形反射镜,实现70%超高聚光效率,并可将光束聚焦在单色仪狭缝处极小的点上,可更快速地激发样品,减少光源功率过大带来的高能耗与高热量,维护成本也显著降低。 

Fluorolog-QM采用了像差校正的单色仪,该单色仪针对光通量与杂散光进行了优化,也保证了Fluorolog-QM的高灵敏度。 

全反射式聚焦光路,使得全光谱范围(180~5500nm)准确聚焦样品表面,保证了Fluorolog-QM的高灵敏度。 

高分辨率 

Fluorolog-QM系列荧光光谱仪使用350 mm焦长非对称Czerny-Turner设计单色仪,带有电动三光栅塔轮和电动转折镜,超过30种光栅可选。 

通过电脑控制高精度微步电机和优化后的光栅相结合,实现小至0.01 nm步进,与光学设计、长焦长、全反射光学和抑制光学像差相结合,可实现优于0.1nm的高光谱分辨率。 

杂散光抑制显著 

Fluorolog-QM系列荧光光谱仪,配备50 mm焦长非对称式Czerny-Turner单色仪,采用光路像差校正,分别针对激发、发射侧独立优化,确保高杂散光抑制能力,获得荧光信号。单级单色仪具有1×10-5的高杂散光抑制比,为了实现更高的灵敏度和光谱性能,Fluorolog-QM还可配置两个350 mm焦长的单色仪,从而实现 700 mm焦距和1×10-10杂散光抑制比,相较于其他荧光光谱仪,HORIBA 双级中间狭缝光学设计(软件控制),进一步优化分辨率和杂散光抑制比。 

满足不同测试需求的多种硬件配置解决方案 

Fluorolog-QM系列采用开放式的结构设计,可实现无限扩展,满足未来任何可能的荧光应用需求。您可以通过选择光源、光栅和检测器以及大量可用的附件来优化最初配置。可选配置多种多样! 

可同时连接4种光源和6个检测器,且全部由电脑控制,实现多功能测试。 

配合TCSPC,MCS,SSTD和真实门控技术,保证了全光谱稳瞬态(皮秒~秒及长余辉测试)、磷光光谱(延迟光谱)测试功能。 

TCSPC寿命测量 

Fluorolog-QM 系列轻松扩展TCSPC 寿命测试系统。利用先进的TCSPC 激发光源,电子计时单元和检测器,Fluorolog-QM 可提供快速的测试,强大的通用性。 

l  所有的稳态/ 时间分辨控制,采集和分析都在FelixFL 软件中进行。

l  超过40 年的TCSPC 研发和生产经验

l 100 MHz操作系统,实现毫秒内完成采集

l  根据寿命测试时间范围,软件自动控制脉冲光源频率

l  TCSPC 寿命测试范围从5 ps到s

l  FelixFL软件包实现稳/瞬态采集

l  可测量TCSPC寿命、时间分辨各向异性和时间分辨发射光谱(TRES)

l  超过60个先进的脉冲LED和脉冲激光可供选择

l  配合HORIBA倍频器,扩展皮秒超连续激光器的多用途—研究蛋白时间分辨的强大工具

l  寿命衰减曲线分析包具有多种拟合模型,包括最大熵法(MEM)寿命分布程序

 

近红外解决方案(适合热点研究应用:稀土、量子点、AIE、近红外二区探针等) 

SSTD磷光检测模式是所有Fluorolog-QM系统的标配功能,为近红外样品的近红外发光研究提供解决方案。SSTD测试速度比传统的MCS技术快8倍,并且不受检测器类型限制(MCS技术只能配合PMT检测器),从而扩展寿命检测范围至5500nm。 

Fluorolog-QM可配备多个光源和检测器,以覆盖最宽波长范围的稳态光谱,荧光和磷光寿命测试需求。可参考以下配置:

l  配置R928 PMT、NIR PMT(H0330或R5509-73市场主流型号)、InGaAs和InSb检测器的双发射单色仪覆盖范围从185 nm到5500 nm

l  用于稳态光谱的连续氙灯

l  20 Hz Q调制开关/OPO激光器,用于210 nm到2200 nm的可调激发

l  180 nm到5500 nm的稳态光谱

l  单脉冲实时采集技术(SSTD)用于测量从185 nm到5500 nm范围内的磷光衰减

 

多种近红外荧光测试解决方案 

NIR PMT检测器

NIR PMT检测器具有超高灵敏度,同时适用于稳态和TCSPC寿命测量,目前TCSPC电子设备是获得皮秒到纳秒荧光寿命的选择选择。

4款NIR PMT,满足宽光谱覆盖范围

l  300~1400 nm,液氮制冷

l  300~1700 nm,液氮制冷

l  950~1400 nm,电制冷

l  950~1700 nm,电制冷

 

固态光电二极管近红外检测器

HORIBA可提供多种光电二极管,包含LN制冷,检测范围可扩展至5500 nm。

l  InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm

l  InAs: 1000~3450 nm

l  InSb: 1500~5500 nm

 

NIR 寿命测量波长范围可达5500 nm!

以上列出所有检测器均可在单脉冲磷光(SSTD)模式中用于NIR发光寿命测量,寿命测量范围可从1微秒至秒。SSTD技术具有超快检测速度和超高的信噪比:

l  可调超高频闪烁氙灯,用于荧光寿命测试

l  第三方脉冲Q调制激光器

l  相较于NIR PMT,固态近红外检测器提供更高性价比的磷光检测方案。

 

强大的FelixFL软件

Fluorolog-QM 荧光光谱仪集成FelixFL软件,实现仪器硬件和附件控制。FelixFL作为新型软件平台,界面友好,操作简单,可用于所有稳态及时间相关光谱的采集和分析。通过USB接口连接,FelixFL即可拥有全套数据采集支持,实现控制所有系统配置和运行多种操作模式。

 

高级运算

FelixFL软件提供多种定制化功能,包括量子产率、吸收、FRET,色坐标计算,以及单壁碳纳米管结构参数等。这对扩展(例如积分球和吸收附件)数据分析非常方便,并且对于一些荧光应用也*,例如分子间相互作用(FRET)和材料表征。

l  单壁碳纳米管结构计算

l  色坐标计算

l  吸收计算器

l  绝对量子产率

l  FRET荧光共振能量转移

 

多种附件可选

Fluorolog-QM系列具有全面的配件系统,研究人员可以根据实验需求,不断扩展仪器功能

l  绝对量子产率测量积分球附件

l  偏振附件

l  吸收/透射附件

l  微量比色皿:250 μl 微量样品池;500μl 比色皿5×5 mm

l  2位和4位磁力搅拌控温样品支架

l  4位磁力搅拌样品支架

l  液氮或液氦低温恒温器

l  固体样品架,测试角度360°可调,满足样品前表面荧光测量,适用于薄膜,粉末,颗粒,纸张,纤维和显微载玻片等样品测量

l  自动滴定仪双注射,双阀

l  Hi-tech SFA-20超快停留动力学附件

l  密封防刮标准水样品,用于水拉曼S/N验证

l  发射校正因子附件

l  激发校正因子附件

l  上转换激光附件

l  20 μl HPLC 流动样品池

l  X射线源

l  显微镜

l  高温附件

l  变温量子产率

 

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