西安天光测控技术有限公司

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公司介绍

简介：

　　陕西天士立科技有限公司，专业从事半导体检测之“半导体电学测试系统”“半导体可靠性试验台”“半导体老化试验台”以及气候环境试验设备、力学环境试验设备、参数化脉冲电源、半导体EDA仿真软件、智慧工厂、碳化硅陶瓷材料、第三方检测实验室为一体的科研、制造、开发、服务性品牌。

　　“半导体检测”系列产品覆盖半导体功率器件的初始研发到规模量产再到应用端的全产业链。服务领域包括半导体器件及IC上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和应用端产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等......)应用场景主要有器件及IC研发期预演测试、晶圆厂自动化芯片测试、器件及IC后道封装测试。应用端的来料检验、失效分析、器件选型、参数配对、寿命预估等。

　　“环境试验设备”包括力学振动台、冲击试验台、振动温度湿度三综合、高低温环境试验箱、各类气候环境试验箱、热流仪、精密实时在线高低温箱。

　　“电气工程”产品系列及服务包括电力半导体器件、模块、组件的研制及综合检测设备；电气自动化设备，电冶、电化学整流装置；电力半导体变流装置及各种高、中、低频感应加热电源，感应加热炉，变压器、整流器、电感器、电容器、互感器、传感器及其配套设备；晶闸管光控高压阀组、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驱动器；远距离光电传感转换软件控制系统；光电脉冲触发板、IGBT智能高压驱动机车调速汇报板；SVC无功静补装置等。

　　展望未来，公司将全力发挥自身技术开发优势，为行业持续输出更多优秀产品，贡献更多技术方案。

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工商基本信息

天眼评分
7332
法定代表人
刘刘淼
注册资本
1000万人民币
实缴资本
30万人民币
统一社会信用代码
91610131MA6UUR694D
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
参保人数
17
曾用名
西安美罗半导体有限公司;
经营状态
开业
成立日期
人员规模
小于50人
工商注册号
610131100461457
纳税人识别号
91610131MA6UUR694D
行业
专业技术服务业
登记机关
陕西省西咸新区市场监督管理局
英文别称
注册地址
陕西省西咸新区沣东新城上林路能源金融贸易区金湾大厦A座310室
经营范围
一般项目：技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；光电子器件制造（仅限分支机构经营）；电子专用设备制造（仅限分支机构经营）；半导体器件专用设备销售；电力电子元器件制造（仅限分支机构经营）；实验分析仪器制造（仅限分支机构经营）；电子测量仪器制造（仅限分支机构经营）；电工仪器仪表制造（仅限分支机构经营）；智能仪器仪表制造（仅限分支机构经营）；先进电力电子装置销售；半导体器件专用设备制造（仅限分支机构经营）；半导体分立器件制造（仅限分支机构经营）；半导体分立器件销售；电子元器件制造（仅限分支机构经营）；冶金专用设备制造（仅限分支机构经营）；电子元器件与机电组件设备制造（仅限分支机构经营）；仪器仪表制造（仅限分支机构经营）；专用仪器制造（仅限分支机构经营）；教学专用仪器制造（仅限分支机构经营）；专用设备制造（不含许可类专业设备制造）（仅限分支机构经营）；软件开发；人工智能行业应用系统集成服务(除依法须经批准的项目外，凭营业执照依法自主开展经营活动)。

股东信息专利信息资质证书

序号	股东(发起人)	持股比例	认缴出资额	认缴出出资日期
1	刘刘淼	90%	900万人民币	2043-04-04
2	张张培华	10%	100万人民币	2043-04-04

专利名称
用于脉冲电流测试的数据处理方法及系统
专利类型
发明专利
申请日
2023-11-27
申请号
CN202311590429.6
公开（公布）号
CN117289013A
公开（公告）日
2023-12-26

专利名称
测试系统的高压电源控制方法
专利类型
发明专利
申请日
2023-11-16
申请号
CN202311528810.X
公开（公布）号
CN117310239A
公开（公告）日
2023-12-29

专利名称
碳化硅材料的激光冷切割控制系统及其方法
专利类型
发明专利
申请日
2023-10-10
申请号
CN202311306260.7
公开（公布）号
CN117260012A
公开（公告）日
2023-12-22

专利名称
高温SiC离子注入系统及其方法
专利类型
发明专利
申请日
2023-08-30
申请号
CN202311104384.7
公开（公布）号
CN116844932A
公开（公告）日
2023-12-15

专利名称
一种浪涌电流测试设备
专利类型
发明专利
申请日
2023-01-29
申请号
CN202310043577.X
公开（公布）号
CN116047150A
公开（公告）日
2023-05-02

专利名称
一种光耦参数动态实时测试仪
专利类型
发明专利
申请日
2022-12-26
申请号
CN202211706259.9
公开（公布）号
CN116047199A
公开（公告）日
2023-05-02

专利名称
一种功率器件动态测试设备
专利类型
发明专利
申请日
2022-11-29
申请号
CN202211506532.3
公开（公布）号
CN115792556A
公开（公告）日
2023-03-14

专利名称
一种高精度电流传感器
专利类型
发明专利
申请日
2022-10-27
申请号
CN202211324578.3
公开（公布）号
CN115575692A
公开（公告）日
2023-01-06

专利名称
一种半导体分立器件静态直流参数测试设备
专利类型
发明专利
申请日
2022-09-29
申请号
CN202211197897.2
公开（公布）号
CN115524267A
公开（公告）日
2022-12-27

专利名称
一种集成氮化镓二极管和三极管的雪崩测试电路及其控制方法
专利类型
发明专利
申请日
2020-10-13
申请号
CN202011088858.X
公开（公布）号
CN112230115A
公开（公告）日
2022-03-25

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