RTM-HS是一个专门用于测试响应时间的模块，瞬变时间能达到10μs，可以用于测量OLED，QLED等新型产品的上升时间，下降时间，过冲Overshoot，运动模糊，灰度响应和频闪Flicker等，可以连接示波器显示测量结果，也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 产品描述：
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 是Microvision 一个专门用于显示设备测试响应时间模块，瞬变时间能达到10μs，可以用于测量OLED，QLED等新型产品的上升时间，下降时间，过冲Overshoot，运动模糊，灰度响应和频闪Flicker等，可以连接示波器显示测量结果，也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量，也可以安装在位移台上，用于自动测量显示屏的不同位置。
工作原理：
RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元，安装在带有适当驱动电子元件的PC板上。它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置，也是关闭的。透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同，只是多了一个热镜。RTM镜头的光圈和焦距是可变的。热镜用来阻止任何红外线。热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管。使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大。如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机 中扩展器耦合的数量，则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同。 RTM还使用ADC板处理时态数据。RTM探测器可以由外部触发，也可以由内部触发。在这两种情况下，系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件。RTM也可以作为一个独立装置使用。
产品亮点：
应用范围：
技术参数：
RTM 时间响应模块
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 升级选项：
测试案例：
