SS445系统是专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品，适用于所有投影技术，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统，从而移动到所需的测试点，配置的140万像素CCD相机，具有自动对焦功能，可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等，而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时，一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上......
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445产品描述：
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445 是Microvison 专门为大屏幕投影显示测量而设计一款产品，适用于所有投影技术，如DLP、LCD、LCOS、影院屏幕，以及后屏投影仪、仿真器等。SS445采用计算机控制的Pan & Tilt定位系统，从而移动到所需的测试点，配置的140万像素CCD相机，具有自动对焦功能，可以测量MTF、亮度、均匀度、伽马等，而配置的分光光谱辐射计可以用于亮度和色度的测量。测量时，一般放置在三脚架上或投影屏幕前的桌子上，从观察者的角度进行测量，从而更好地表征用户体验。
工作原理：
Microvision SS445是专门为大屏幕显示器设计的显示测量系统。这包括采用任何现有投影引擎技术的，直至剧院大小的投影显示器。该系统使用电动平移和倾斜机构移动到所需的测试位置。该系统可以配置有1.4MP CCD相机和/或衍射光栅光谱仪。在操作过程中，系统位于待测显示器的前面。图形生成器或Microvision的MVRemote用于自动显示测试图形，或者如有需要，客户的系统可以生成图像。SS445旨在从观察者的角度对显示器进行测量，从而更好地表现出实际看到的显示器性能。可以快速测量几个观察者位置，从而定义显示。在操作员输入所需的测试位置（X＆Y或像素坐标）的情况下，测试可以自动化，并且系统将在这些位置自动查找并运行选定的测试。
产品亮点：
应用范围：
激光投影光色性能分析仪-激光显示光学测试系统-LCOS激光投影分析系统-SS445技术参数：
CCD相机
Spectrometer + Goniometer 光谱辐射计+测角仪
Pan & Tilt 位移台
升级选项：
测试案例:
