Zeta电位及纳米粒度分析仪
纳米粒度测量——动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器UPA（UltrafineParticle Analyzer）研发成功
Zeta电位及纳米粒度分析仪
技术参数：
粒度分析范围: 0.3nm-10µm
重现性：误差≤1%
浓度范围：ppb-40%
检测角度：180°
分析时间：30-120秒
准确性：全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子
测量精度: 无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果
理论设计温度：0-90℃，可以进行程序升温或降温
兼容性：兼容任何有机溶剂及大多数酸性或碱性溶液
测量原理：
粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理分子量测量：水力直径或德拜曲线技术：膜电极，微电场电势测量，“Y”型光纤探针设计，异相多普勒频移，可控参比方法，快速傅立叶转换算法，非球形颗粒校正因子
光学系统：
3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路
软件系统：
先进的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和授权等。
外部环境：
电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz环境要求：温度，10-40°C相对湿度：小于95%
配置：
有内置和外置光纤测量探头可选
Zeta电位及纳米粒度分析仪
主要特点：﹡采用的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法﹡的“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。﹡的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。﹡的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。﹡超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。﹡的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。﹡膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。﹡无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果﹡消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。
