产品简介

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VUVas2000真空紫外光谱仪是McPherson 公司推出的检测不同种类的材料在真空紫外波段（115-380nm 波长范围)的吸收谱、透射谱和反射谱的检测仪器。可以根据用户的要求定制不同规格的样品室和样品架，测量不同大小、不同厚度的样品，并可进一步选择偏振和荧光发射测量，为不同材料在真空紫外波段的研究与应用提供的测试手段。

产品详情

光纤光谱仪是一种用于测量光源光谱特性的精密仪器。它具有许多显著的优点，如体积小巧、便携性强、测量速度快、精度较高以及能够进行实时在线检测等。

光纤光谱仪通过光纤将光引入仪器内部，大大增加了测量的灵活性和便利性，使其能够在各种复杂环境中使用。

光纤光谱仪

紫外可见光纤光谱仪

光纤光谱仪的优势：

模块化和灵活性：光纤光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，这使得用户可以非常灵活地搭建光谱采集系统。这种灵活性允许光谱仪在不同的实验和工业环境中快速部署和调整。

快速扫描能力：采用多象元光学探测器（如CCD和光电二极管阵列）的光纤光谱仪能够对整个光谱进行快速扫描，这对于需要快速响应的应用场景尤为重要。

低成本：随着通用探测器的使用，光纤光谱仪的成本大大降低，使得更多的实验室和企业能够负担得起，从而扩展了其应用领域。

光纤光谱仪主要的结构和部件

入射狭缝：用于限制入射光的宽度，确保光线以较窄的束状进入光谱仪，提高光谱分辨率。

准直镜：将通过狭缝的光线变成平行光，以便后续的分光处理。

衍射光栅：这是核心分光元件，通过衍射作用将不同波长的光分开，形成光谱。

聚焦镜：将衍射后的不同波长的光聚焦到探测器的不同位置上。

探测器：常见的有电荷耦合器件（CCD）或互补金属氧化物半导体（CMOS）探测器，用于将光信号转换为电信号。

光纤：用于传输光信号，将光源的光引入光谱仪内部。

数据采集和处理系统：包括电子电路和相关软件，用于采集探测器输出的电信号，并进行处理和分析，最终得到光谱数据。

这些部件协同工作，使得光纤光谱仪能够实现对光的波长和强度的精确测量和分析。

光纤光谱仪的测量原理基于光的色散和光电转换。当光线通过光纤进入光谱仪后，首先会经过一个入射狭缝，将光线限制在一个狭窄的路径上。然后，光线会照射到一个衍射光栅上。衍射光栅会根据光的波长将其分散开来，形成不同波长的光带。这些分散的光通过聚焦镜聚焦到探测器上，探测器通常是电荷耦合器件（CCD）或互补金属氧化物半导体（CMOS）。探测器能够将不同波长的光信号转换为电信号。由于不同波长的光在探测器上的位置是固定的，通过测量探测器上各个位置的电信号强度，就可以得到光在不同波长处的强度分布，从而获得被测量光源的光谱信息。总之，光纤光谱仪通过对入射光的分光和光电转换，实现了对光的波长和强度的精确测量。

光纤光谱仪在各领域的应用

在材料科学领域：光纤光谱仪是探索新材料特性的得力工具。它能够精确分析材料对不同波长光的吸收、反射和透射特性，为材料的研发和质量控制提供关键数据。无论是研究新型半导体材料的能带结构，还是评估金属材料的表面涂层质量，光纤光谱仪都发挥着作用。

在化学分析行业：其统治地位更是显著。通过对样品的光谱分析，能够快速准确地检测出各种化学物质的成分和浓度。在环境监测中，可以实时监测空气、水和土壤中的污染物，为环境保护提供及时、可靠的依据。在制药领域，能够精确检测药物成分，确保药品的质量和安全性。

在生命科学领域：光纤光谱仪也大放异彩。它可以用于细胞和生物分子的研究，例如测量细胞内的荧光标记物，分析蛋白质和核酸的结构和功能。在医学诊断中，能够进行微创的疾病检测，如通过光谱分析血液成分来诊断疾病。

在工业生产中：光纤光谱仪实现了对生产过程的实时在线监测。在食品加工行业，检测食品中的营养成分和有害物质；在半导体制造中，监控工艺过程中的薄膜厚度和成分。这种实时监测能力有助于提高生产效率，降低次品率，保障产品质量的一致性。

总之，光纤光谱仪以其高灵敏度、快速响应、便携性和多用途的特点，在材料科学、化学分析、生命科学、工业生产等众多行业的检测中占据着统治地位。它不仅推动了科学研究的深入发展，也为工业生产和质量控制带来了巨大的便利和效益，成为了现代检测技术中的重要力量。

光纤光谱仪在燃料检测中的应用

产品说明

VUVas2000真空紫外光谱仪是 公司推出的检测不同种类的材料在真空紫外波段（115-380nm 波长范围)的吸收谱、透射谱和反射谱的检测仪器。可以根据用户的要求定制不同规格的样品室和样品架，测量不同大小、不同厚度的样品，并可进一步选择偏振和荧光发射测量，为不同材料在真空紫外波段的研究与应用提供的测试手段。由于VUVas2000真空紫外光谱仪采用的是真空斩波和锁相放大技术从而极大地提高了信号检测的灵敏度和信躁比，是目前在这个波段开展上述弱信号测量国际的仪器产品。

【参数表】

1. 光学特征

2．光谱特征

3．样品测量

4.真空系统

5．控制系统