三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--产品用途三箱式冷热冲击试验机是用来测试材料结构或复合材料
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--产品用途
三箱式冷热冲击试验机是用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引足的化学变化或物理伤害,确认产品的品质适用的对象包括电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑肢等行业及国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料的物理变化,可作为其产品改进的依据或参考,本公司生产的多种类型热冲击箱可满足不同行业的试验要求。
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--性能特点
自主研秘5代7寸真彩控制系统,成熟稳定可靠
O.1℃精确解析能力
96pSTJogSTJam每段0-540HOUSTJS可控制时间程序记忆功能
标曲线，数据通过USB2.0接口下载并储存PC
自动冲击温度自动补偿模式以及产品试验前的应力消除设定,过温中击保护模式等
强劲的全自动控制与安全保护协调系统
全新冷媒需求量算法,制冷不制热控制技术,同比节约电力30%
预约启动设定，运转预计结束表示，通电时间积算,运行时间积算
程序结束规划(程序连接，转到定制，停机等)
可进行高低温，快温变，湿热试验，一机三用重
试验箱的配件库存长达十年以上
可通过因特网远距离监控机器运行情况，及远程操控机器
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--符合标准
GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--规格与技术参数
型号 | STJ-PTH-60L | STJ-PTH-100L | STJ-PTH-300L | |||
工作室尺寸(W*H*L)mm | 450*400*340 | 500*450*450 | 600*750*700 | |||
外型尺寸(W*H*L)mm | 900*1450*1050 | 1130*1750*1100 | 1300*1850*1300 | |||
提篮尺寸(W*H*L)mm | 350*400*300 | 400*350*350 | 500*650*600 | |||
性能 | 温度范围 | -40℃～+150℃/-55℃～+150℃/-65℃～+150℃ | ||||
温度均匀性 | ≤2.0℃ | |||||
温度波动 | ≤0.5℃ | |||||
使用环境温度 | +5℃～35℃ | |||||
电源 | AC380V 50Hz | |||||
升温时间（高温区） | +25~+200℃ 45分钟以内 | |||||
降温时间（低温区） | RT~-55℃/ RT~-65℃/ RT~-75℃ 约70分钟 | |||||
样品区承重 | 100KG | 100KG | 100KG | |||
控制 | 控制器 | 进口触摸式（P、I、D +S、S、R.）微电脑集成控制器 | ||||
精度范围 | 设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃ | |||||
制冷系统 | 机械压缩式复叠制冷系统 全封闭或半封闭式压缩机 | |||||
循环系统 | 单循环，低噪音离心风机 | |||||
温度转换时间 | 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S | |||||
温度恢复时间 | ≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关） | |||||
温度冲击方法 | 垂直三箱法或7字型三厢法 | |||||
☆上述指标在室温为+23℃时，温湿度性能测试按照国家标准《JJF1101-20003》相关条款检定。
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--产品用途
三箱式冷热冲击试验机是用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引足的化学变化或物理伤害,确认产品的品质适用的对象包括电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑肢等行业及国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料的物理变化,可作为其产品改进的依据或参考,本公司生产的多种类型热冲击箱可满足不同行业的试验要求。
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--性能特点
自主研秘5代7寸真彩控制系统,成熟稳定可靠
O.1℃精确解析能力
96pSTJogSTJam每段0-540HOUSTJS可控制时间程序记忆功能
标曲线，数据通过USB2.0接口下载并储存PC
自动冲击温度自动补偿模式以及产品试验前的应力消除设定,过温中击保护模式等
强劲的全自动控制与安全保护协调系统
全新冷媒需求量算法,制冷不制热控制技术,同比节约电力30%
预约启动设定，运转预计结束表示，通电时间积算,运行时间积算
程序结束规划(程序连接，转到定制，停机等)
可进行高低温，快温变，湿热试验，一机三用重
试验箱的配件库存长达十年以上
可通过因特网远距离监控机器运行情况，及远程操控机器
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--符合标准
GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
三箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--规格与技术参数
型号 | STJ-PTH-60L | STJ-PTH-100L | STJ-PTH-300L | |||
工作室尺寸(W*H*L)mm | 450*400*340 | 500*450*450 | 600*750*700 | |||
外型尺寸(W*H*L)mm | 900*1450*1050 | 1130*1750*1100 | 1300*1850*1300 | |||
提篮尺寸(W*H*L)mm | 350*400*300 | 400*350*350 | 500*650*600 | |||
性能 | 温度范围 | -40℃～+150℃/-55℃～+150℃/-65℃～+150℃ | ||||
温度均匀性 | ≤2.0℃ | |||||
温度波动 | ≤0.5℃ | |||||
使用环境温度 | +5℃～35℃ | |||||
电源 | AC380V 50Hz | |||||
升温时间（高温区） | +25~+200℃ 45分钟以内 | |||||
降温时间（低温区） | RT~-55℃/ RT~-65℃/ RT~-75℃ 约70分钟 | |||||
样品区承重 | 100KG | 100KG | 100KG | |||
控制 | 控制器 | 进口触摸式（P、I、D +S、S、R.）微电脑集成控制器 | ||||
精度范围 | 设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃ | |||||
制冷系统 | 机械压缩式复叠制冷系统 全封闭或半封闭式压缩机 | |||||
循环系统 | 单循环，低噪音离心风机 | |||||
温度转换时间 | 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S | |||||
温度恢复时间 | ≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关） | |||||
温度冲击方法 | 垂直三箱法或7字型三厢法 | |||||
☆上述指标在室温为+23℃时，温湿度性能测试按照国家标准《JJF1101-20003》相关条款检定。
