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合肥科晶 M-5台式四探针测试仪
产品概述：
M-5台式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
合肥科晶 M-5台式四探针测试仪产品特征：
- 测试仪由M-5型主机和四探针探头以及快速恒压四探针测试台三部分组成
- 台式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准
- 宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程
- 操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示
- 多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试
工作电源：
探头：
- 根据不同材料特性需要，探头可有多款选配：
- 碳化钨探针探头（固体材料）：φ0.5mm，探针间距1.0mm，测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料
- 球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：φ0.7mm，探针间距2mm，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底
- 上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层
- 探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差
选配：快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度
测量范围、分辨率：
- 电阻：10-5～2*105Ω 分辨率：10-6～102 Ω
- 电阻率：10-5～2*105Ω-cm 分辨率：10-6～102 Ω-cm
- 方块电阻：5*10-5～9*105Ω/m2 分辨率5*10-6～5*102Ω/m2
基本误差：±1%FSB±2LSB
外形尺寸：220mm L × 245mm W × 100mm H
净重：2.5kg
