商品详情产品介绍：SU-70采用了semi-in-lens物镜以及肖特基场发射电子枪技术，除了具有高分辨率的特点外，它还借助日立的SuperExB技术可观察减轻荷电图像，成分衬度图像和超低加速电压图像
商品详情
产品介绍：
SU-70采用了"semi-in-lens"物镜以及肖特基场发射电子枪技术，除了具有高分辨率的特点外，它还借助日立的Super E x B技术可观察减轻荷电图像，成分衬度图像和超低加速电压图像。SU-70探针电流为100 nA，可进行各种各样的分析操作（X射线能谱仪，电子背散射衍射系统等）
主要特点：
● 具有超高分辨率 ：1.0nm/15kV，1.6nm/1kV(减速模式)。
● Super E x B技术用于控制SE/BSE信号检测，实现消除放电现象及信号混合。
● 具有“Semi-in-lens”和“out-lens”两种物镜模式，可实现高分辨和磁性样品两种观察模式。
应用领域：
1. 纳米材料
2. 金属
3. 半导体器件
4. EBSP分析
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