精度:0.01mg/十万分之一0.1mg/万分之一量程:31g210g类型:双量程校准:内校MF系列微量电子分析天平介绍MF系列微量电子分析天平采用的高灵敏度、高稳定性后置式电磁力传感器技术
精度:0.01mg/十万分之一0.1mg/万分之一 量程:31g 210g 类型:双量程 校准:内校
MF系列微量电子分析天平介绍
| 型号 | MF2035C |
| 称量范围() | 220g/31g |
| 可读性 (d) | 0.1 mg/0.01mg |
| 重复性 | ±0.1mg/±0.05mg |
| 线性 | ±0.1mg/±0.05mg |
| 稳定时间 | 2.5秒/15秒 |
| 预热时间 | 30-60分钟 |
| 称量单位 | g, oz, ct, lb |
| 计件称量的最小称重 | 0.1 mg |
| 计件称量的参考数量 | 5, 10, 20, 50,100 |
| 秤盘（不锈钢） | ø 90 mm |
| 净重 (kg) | 6 |
| 可允许的环境条件 | +10° C to +30° C |
| 环境湿度范围 | 20 ~ 85 % 相对 (非冷凝) |
| 电源输入电压 | AC 230 V, 50-60Hz |
| 接口 | RS232C |
