HORIBA Fluorolog-QM模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪：代表了五十多年HORIBA 的荧光行业先进经验以及制造高水平和功能多样性的荧光光谱仪。相较于其他科研级荧光光谱仪，Fluorolog-QM 以其全波长范围内的反射性能以及众多的光源和检测器选择方案，全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围至5500nm，以及显微镜、X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案等优势，
HORIBA 模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪
Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的荧光行业先进经验以及制造高水平和功能多样性的荧光光谱仪。相较于其他科研级荧光光谱仪，Fluorolog-QM 以其全波长范围内的反射性能以及众多的光源和检测器选择方案，全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围至5500nm，以及显微镜、X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案等优势，为荧光测试提供高灵敏度和无限拓展性。
“仪器性能、通用性及操作便捷性的飞跃提升”
l 反射式光路设计，保证全波长范围准确聚焦，无需调整光路，性能全优化，这是高灵敏度的保证
l 具备优势的杂散光抑制比，像差校正长焦长单色仪（单级：350 mm，双级：700 mm）
l 配备专业分析软件，满足所有稳态和寿命测试需求，具有多种新型寿命拟合功能
l 扩展波长范围，光路由气氛保护，保证深紫外到近红外区域的检测
l 可同时连接4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测试
l 即插即用，100 MHz脉冲光源，强化TCSPC寿命功能
l 近红外稳态和磷光寿命检测波长至5500 nm
l 优化的光学设计，氙灯光源扩展深紫外激发（低至180 nm），无臭氧
HORIBA Fluorolog-QM模块化科研级稳瞬态荧光光谱仪
高灵敏度
Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙灯光源配合椭球形反射镜，实现70%超高聚光效率，并可将光束聚焦在单色仪狭缝处极小的点上，可更快速地激发样品，减少光源功率过大带来的高能耗与高热量，维护成本也显著降低。
Fluorolog-QM采用了像差校正的单色仪，该单色仪针对光通量与杂散光进行了优化，也保证了Fluorolog-QM的高灵敏度。
全反射式聚焦光路，使得全光谱范围（180~5500nm）准确聚焦样品表面，保证了Fluorolog-QM的高灵敏度。
高分辨率
Fluorolog-QM系列荧光光谱仪使用350 mm焦长非对称Czerny-Turner设计单色仪，带有电动三光栅塔轮和电动转折镜，超过30种光栅可选。
通过电脑控制高精度微步电机和优化后的光栅相结合，实现小至0.01 nm步进，与光学设计、长焦长、全反射光学和抑制光学像差相结合，可实现优于0.1nm的高光谱分辨率。
杂散光抑制显著
Fluorolog-QM系列荧光光谱仪，配备50 mm焦长非对称式Czerny-Turner单色仪，采用光路像差校正，分别针对激发、发射侧独立优化，确保高杂散光抑制能力，获得荧光信号。单级单色仪具有1×10-5的高杂散光抑制比，为了实现更高的灵敏度和光谱性能，Fluorolog-QM还可配置两个350 mm焦长的单色仪，从而实现 700 mm焦距和1×10-10杂散光抑制比，相较于其他荧光光谱仪，HORIBA 双级中间狭缝光学设计（软件控制），进一步优化分辨率和杂散光抑制比。
满足不同测试需求的多种硬件配置解决方案
Fluorolog-QM系列采用开放式的结构设计，可实现无限扩展，满足未来任何可能的荧光应用需求。您可以通过选择光源、光栅和检测器以及大量可用的附件来优化最初配置。可选配置多种多样!
可同时连接4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测试。
配合TCSPC，MCS，SSTD和真实门控技术，保证了全光谱稳瞬态（皮秒~秒及长余辉测试）、磷光光谱（延迟光谱）测试功能。
TCSPC寿命测量
Fluorolog-QM 系列轻松扩展TCSPC 寿命测试系统。利用先进的TCSPC 激发光源，电子计时单元和检测器，Fluorolog-QM 可提供快速的测试，强大的通用性。
l 所有的稳态/ 时间分辨控制，采集和分析都在FelixFL 软件中进行。
l 超过40 年的TCSPC 研发和生产经验
l 100 MHz操作系统，实现毫秒内完成采集
l 根据寿命测试时间范围，软件自动控制脉冲光源频率
l TCSPC 寿命测试范围从5 ps到s
l FelixFL软件包实现稳/瞬态采集
l 可测量TCSPC寿命、时间分辨各向异性和时间分辨发射光谱（TRES）
l 超过60个先进的脉冲LED和脉冲激光可供选择
l 配合HORIBA倍频器，扩展皮秒超连续激光器的多用途—研究蛋白时间分辨的强大工具
l 寿命衰减曲线分析包具有多种拟合模型，包括最大熵法(MEM)寿命分布程序
近红外解决方案（适合热点研究应用：稀土、量子点、AIE、近红外二区探针等）
SSTD磷光检测模式是所有Fluorolog-QM系统的标配功能，为近红外样品的近红外发光研究提供解决方案。SSTD测试速度比传统的MCS技术快8倍，并且不受检测器类型限制（MCS技术只能配合PMT检测器），从而扩展寿命检测范围至5500nm。
Fluorolog-QM可配备多个光源和检测器，以覆盖最宽波长范围的稳态光谱，荧光和磷光寿命测试需求。可参考以下配置:
l 配置R928 PMT、NIR PMT（H0330或R5509-73市场主流型号）、InGaAs和InSb检测器的双发射单色仪覆盖范围从185 nm到5500 nm
l 用于稳态光谱的连续氙灯
l 20 Hz Q调制开关/OPO激光器，用于210 nm到2200 nm的可调激发
l 180 nm到5500 nm的稳态光谱
l 单脉冲实时采集技术(SSTD)用于测量从185 nm到5500 nm范围内的磷光衰减
多种近红外荧光测试解决方案
NIR PMT检测器
NIR PMT检测器具有超高灵敏度，同时适用于稳态和TCSPC寿命测量，目前TCSPC电子设备是获得皮秒到纳秒荧光寿命的选择选择。
4款NIR PMT，满足宽光谱覆盖范围
l 300~1400 nm，液氮制冷
l 300~1700 nm，液氮制冷
l 950~1400 nm，电制冷
l 950~1700 nm，电制冷
固态光电二极管近红外检测器
HORIBA可提供多种光电二极管，包含LN制冷，检测范围可扩展至5500 nm。
l InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm
l InAs: 1000~3450 nm
l InSb: 1500~5500 nm
NIR 寿命测量波长范围可达5500 nm!
以上列出所有检测器均可在单脉冲磷光(SSTD)模式中用于NIR发光寿命测量，寿命测量范围可从1微秒至秒。SSTD技术具有超快检测速度和超高的信噪比:
l 可调超高频闪烁氙灯，用于荧光寿命测试
l 第三方脉冲Q调制激光器
l 相较于NIR PMT，固态近红外检测器提供更高性价比的磷光检测方案。
强大的FelixFL软件
Fluorolog-QM 荧光光谱仪集成FelixFL软件，实现仪器硬件和附件控制。FelixFL作为新型软件平台，界面友好，操作简单，可用于所有稳态及时间相关光谱的采集和分析。通过USB接口连接，FelixFL即可拥有全套数据采集支持，实现控制所有系统配置和运行多种操作模式。
高级运算
FelixFL软件提供多种定制化功能，包括量子产率、吸收、FRET，色坐标计算，以及单壁碳纳米管结构参数等。这对扩展（例如积分球和吸收附件）数据分析非常方便，并且对于一些荧光应用也*，例如分子间相互作用（FRET）和材料表征。
l 单壁碳纳米管结构计算
l 色坐标计算
l 吸收计算器
l 绝对量子产率
l FRET荧光共振能量转移
多种附件可选
Fluorolog-QM系列具有全面的配件系统，研究人员可以根据实验需求，不断扩展仪器功能
l 绝对量子产率测量积分球附件
l 偏振附件
l 吸收/透射附件
l 微量比色皿：250 μl 微量样品池；500μl 比色皿5×5 mm
l 2位和4位磁力搅拌控温样品支架
l 4位磁力搅拌样品支架
l 液氮或液氦低温恒温器
l 固体样品架，测试角度360°可调，满足样品前表面荧光测量，适用于薄膜，粉末，颗粒，纸张，纤维和显微载玻片等样品测量
l 自动滴定仪双注射，双阀
l Hi-tech SFA-20超快停留动力学附件
l 密封防刮标准水样品，用于水拉曼S/N验证
l 发射校正因子附件
l 激发校正因子附件
l 上转换激光附件
l 20 μl HPLC 流动样品池
l X射线源
l 显微镜
l 高温附件
l 变温量子产率
