芯片冷热冲击测试箱产品型号:3AP-CJ-150C三箱式分为蓄冷室，蓄热室和实验室，产品在测试时是放置在实验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。用户可根据自己有实际需求选择相关规格型号。
芯片冷热冲击测试箱三箱式分为蓄冷室，蓄热室和实验室，产品在测试时是放置在实验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。用户可根据自己有实际需求选择相关规格型号。以下是三箱部分技术参数：
控制器型号:爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器(具有温度报警显示、实时温度曲线显示)
一、电路成品恒温恒湿试验箱产品名称三箱式冷热冲击试验机（风冷式）
二、产品型号3AP-CJ-80A
三、控制仪表爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器全触摸屏控制器，触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求.
四、试样限制本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存腐蚀性物质试样的试验或
储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验或储存。
五、芯片冷热冲击测试箱 三箱特点
1、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品*静止于测试区。采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。
2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。
容积、尺寸和重量
6.1.内容积50L
6.2.内箱尺寸400 *350 *350mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(约)1350*1900*1650mm (W* H *D)
6.4.重 量约900㎏
测试室温度范围：-65℃～150 ℃ (水冷式)
高温室
预热温度范围RT～+180℃
升温时间:+60℃→+180℃ ≤40min注：升温时间为高温室单独运转时的性能
追高温冲击范围： 150℃
追低温冲击范围： -65℃
高低温冲击范围有：-40℃～+150℃;-55℃～+150℃;-65℃～+150℃;
高温室储存追高温度范围: 60℃～+200℃;
低温室储存追低温度范围: 60℃～-75℃;
高温室升温时间：+20℃～+200℃约60分钟
低温室降温时间：+20℃～-75℃约100分钟
温度恢复时间: 3~5min（追快转换时间在10秒钟内可完成）
温度波动度：±0.5℃
温度偏差： ≤±2℃
高温冲击试验设备|低温冲击试验设备安全装置:
配有:超温保护;压缩机超压;过载;过流保护;风机过载保护相序保护,漏电保护;
电源:AC380V50Hz
1、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品*静止于测试区。采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。
2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲
