产品简介：蔡司 Xradia 515 Versa具有突破性的灵活3D亚微米成像系统蔡司X射线显微镜 Xradia 515 Versa 突破3D成像和原位/ 4D研究的微米级分辨率的成像壁垒。其高分辨率、高衬度以及灵活的工作距离下成像能力的组合，拓展了实验室无损成像能力。蔡司 Xradia 515 Versa 得益于两级放大的架构，可实现大工作距离下亚......
优势：
即使在距射线源较大的工作距离（从毫米到厘米）下，也能实现多功能性。
√ *的吸收衬度和创新的相位衬度，可实现对软材料或低原子序数材料3D成像
√ 突破基于投影的微米CT的技术限制，在灵活的工作距离上实现优异的高分辨率
√ 多种样品尺寸下解析亚微米级特征
√ 4D / 原位解决方案拓展了实验室无损成像能力
√ 随时间推移，在一定环境条件下研究材料变化
√ 在保证图像质量条件下的高通量
