温度循环冲击试验箱厂家适用于电子、LED、LCD、PCB板、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的得力助手。
一、温度循环冲击试验箱厂家制冷系统
1、制冷系统及压缩机：为了保证试验箱降温速率和zui低温度的要求，本试验箱采用一套进口法国全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式冷 系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器是也到能量传递的作用，将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去，实现隆温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术，一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节，使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。
2、制冷工作原理：高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。zui后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
3、制冷剂：采用DUPONT公司R404A（高温循环）、R23（低温循环）。
4、辅助件：膨胀阀（美国SPORLAN），电磁阀（意大利CAS）；过滤器（美国SPORLAN）；压力控制器（英美RANCO）；油分离器（欧美ALCO）等制冷配件均采用进口件。
二、温度循环冲击试验箱厂家应用领域
高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的*的一项测试箱。
三、产品特点
冷热冲击试验箱(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。
采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。
温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。
冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。
高温冲击或低温冲击时，zui大时间可达999H，zui大循环周期可达9999次。
系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。
冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。
试料槽*静止，可由测试孔外加负载配线。
蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少, 而产生工作倦怠,集中力降低）。
蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2 或 LCO2）辅助降温，待测物*静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供*可靠的测试工具。
可选择始动位置，高温或低温开始循环。
具有预约起动功能。
可设定循环次数及自动除霜。
可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。
有异常或故障显示及排除方法说明。
欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备
多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行
四、技术参数与规格型号：
JR-WD-50 JR-WD-80 JR-WD-100 JR-WD-150 JR-WD-250 JR-WD-480
内部尺寸 HxD(mm)
50L:360×350×350 80L:500×400×400 100L:600×400×400
150L:600×500×500 250L:700×600×600 480L:800×800×750
外部尺寸HxD(cm)
50L:1560×1750×1440 80L:1700×1800×1440 100L:1800×1800×1440
150L:1800×1900×1540 250L:1900×2000×1640 480L2020×2250×2150
温度范围：低温(B：-40;C：-55;D：-65)~高温+150℃
高温区：+60℃~+200℃
低温区：-10℃~-75℃;
升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min
降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min
温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内
温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃
五、产品安全
● 漏电断路器(200.220.380V AC)● 配线用断路器(400/41 5V AC)
● 高温试验箱温度过升防止用温度开关● 低温试验箱温度过升防止用温度开关
● 试验区温度过升·过冷防止器(控制器)● 试验区温度过冷·过冷防止器(另外装备)
● 高温试验箱温度过升防止器(控制器)● 低温试验箱温度过升防止器(控制器)
● 冷冻机高低压压力开关● 压缩机内装的保护器
● 压缩机过电流保护模块● 压缩机温度开关
● 压缩机逆向防止继电器● 压缩空气压力开关
● 断水继电器(仅适用于水冷规格)● 冷却塔连动连接端子(仅适用于水冷规格)
六、操作流程
一般来说，高低温冲击试验箱操作分为五部走：预处理、初始检测、试验、恢复、zui后检测。下面杰瑞设备和大家一起分享一下详细流程内容：
1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
2.初始检测：将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。
3.试验：
1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。
2)高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。
3)低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准。
4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。
4. 恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
5.zui后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。
