薄膜测厚仪
薄膜测厚仪
采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672（塑料薄膜和薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777等测试标准。
本测厚仪采用进口优质传感器，测厚分辩率高达0.1微米，选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。
标准：GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817
欲了解详细信息，敬请致电，
本信息由LABTHINK兰光广州分公司 销售部: 刘骏 发布。
